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51单片机电子器件测试仪的设计+源程序

时间:2017-03-16 21:51来源:毕业论文
以 MCS-51 单片机为核心的电子器件测试仪,通过几个简单的测试电路,根据各个电路的输出,能够准确地测试出电容、二极管、三极管、运放741 以及555 芯片的好坏,并且在1602 液晶屏上

毕业设计说明书(论文)中文摘要  随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用范围也逐渐广泛起来。电子器件及它们的有机连接,构成了各种功能的电子系统的硬件。一个电子系统,焊接时有任何小的差错,都有可能导致电子系统无法正常工作。 【1】因此,设计一个可靠、安全、便捷的电子器件测试仪,在焊装元器件之前对其进行一次全面的“体检”具有极大的现实必要性。 在系统硬件设计中,以 MCS-51 单片机为核心的电子器件测试仪,通过几个简单的测试电路,根据各个电路的输出,能够准确地测试出电容、二极管、三极管、运放741 以及555 芯片的好坏,并且在1602 液晶屏上显示出来。 在系统的软件设计中,是以 Keil  C51 为仿真平台,使用C 语言编写了系统应用软件。包括主程序模块、显示模块、电容测试模块、二极管测试模块、三极管测试模块、运放741 测试模块以及555 芯片测试模块。 通过在proteus 软件中仿真,结果表明本系统的功能和指标达到了设计要求。  6570
关键词:电子元器件 单片机 1602 显示屏 C 语言 测试  
  毕业设计说明书(论文)外文摘要
Title   Design of The Electronic Components Test Instrument Based On SCM                                                
 Abstract
With the development of electronic industry,electronic components rapidly
increased;and also  electronic components widely used    gradually.The
electronic components and their organic connection constitute the hardware
of the elcetronic system of various functions.As for a elcectronic
system,even a few mistakes could bring about the whole system unable to
work.
【1 】 Therefore,the design of a reliable,safe,convinent electronic
components tester  instrument,checking the components before welding is of
great practical necessity.
In the design of the hardware system, take the MCS-51 SCM as the core
resistance,through several simple test circuits,according the output  of
the circuit,this electronic  components tester  instrument  could
distinguish accurately good or bad of the capacitance,diode,triode,op-amp
741 and 555 chip,then display the result on the LCD 1602.
In the design of the software system, take Keil C51 as the simulation
platform,used the  C  language programming  which  compiled the system
application software.The system  includes  master routine module,display
module , capacitance  test module,diode  test module  ,triode  test
module,op-amp 741 test module and 555 chip  test module.
Through the simulation  in proteus,  the results show that  the function and
the indexes of the system meet the design requirements.
 Keywords :electronic components   SCM   LCD 1602   C languge   test
 目   次  
1  绪论 . 1
1.1  设计背景及意义  1
1.2  电子器件测试仪的发展历史及研究现状  . 2
1.3   设计的任务及要求   3
1.3.1 本设计课题应达到的目的   3
1.3.2 本设计课题任务内容和要求   3
1.3.3 本设计课题任务成果要求   3
2  电子器件测试仪的系统设计   3
2.1   电子元器件的传统测试方案 . 4
2.1.1 电容测试传统方案   4 51单片机电子器件测试仪的设计+源程序:http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_4168.html
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