（5）由于试样与放电区相互隔离，所以并不会影响放电区，再加上样品进入速率十分稳定，所以高频放电稳定性极高。综上考虑，这种机制使得ICP-AES法的精密度十分优异。

（6）ICP-AES法对样本限制较少，可以直接分析多种形态的样本。

1。2。4存在问题及解决方案

 当然，凡事没有十全十美，ICP也有自己的缺陷。目前，ICP-AES存在的问题很多，主要有三个方面：样本的制取、样本的测量和干扰的消除。其中着重点在于样本的溶解和干扰的消除。其中方法很多，溶样过程可以采用先进的熔接技术，例如微波溶样。干扰消除的话可以精确得选择分析线，在测量过程中尝试基体匹配或基体分离。另外还可以运用内标元素校正等方法[10]。

(1)ICP-AES分析中的干扰与校正研究

干扰问题在ICP-AES法中存在已久，涉及方面很多，甚至可以说涉及工ICP放电的全过程[11]。以溶液进样为例，从最初的样本溶解，到最后配完试液进入及其测量，样本经过很多程序。不过，总体来说，从最初的信号产生到最后分析信号结果的获得，这期间所有的干扰可分为光谱干扰和非光谱干扰。光谱干扰是因为干扰物引起的辐射信号，与被测物质的辐射信号重叠或者相近，不容易分辨从而产生光谱干扰。非光谱干扰是指光信号因为其他因素的干扰出现忽强忽弱的现象。非光谱干扰的产生因素很多，主要包括了以下几个方面：分析物挥发、原子化等因素的干扰。

(2)与溶液输送、雾化、去溶等有关的非光谱干扰

 较多的是酸的影响，以硫酸为例，因为水中钙离子并不能完全去除，所以极易与钙离子生成硫酸钙，这样容易堵塞进液管；还有氢氟酸溶解的样本，测量时必须更换标准谱线，因为氢氟酸会与玻璃发生反应。所以尽量避免用氢氟酸和硫酸[12]。

    另一种表现为盐效应，但由于ICP检测物质浓度均为ppm级，所以溶液浓度极低，盐效应不予考虑。

(3)光谱干扰消除

1)预分离及预富集：在测量之前，对待测元素和基体进行预富集和分离，这样在测量过程中就可以减少其他杂质元素的干扰，可以提高测量精度。

2)采用高分辨光谱仪：高分辨率光谱仪，可以很清晰的观测到分析线，这样很大程度上谱线的重叠问题就得以解决。

3)适当选择分析线：从原理中我们可以看出，元素的分析线不止一条，选择合适的分析线，是避免光谱干扰最简单实用的方法[13]。

4)用控制变量法，使校准液与待测样品在基体元素等方面都保持完全一致，从而消除因为标准液带来的误差。

5)在进样系统中，采用蠕动泵进样的方法，这样可以稳定进样速率，从一定意义上来说，对减轻上述干扰可起一定的作用。

6)采用内标校正法可适当地补偿干扰的影响。文献综述

1。3直读光谱法

与ICP一样，直读光谱仪的理论依据也是原子发射光谱的。它的分析方法以及分析手段，经过很长一段时间的发展，此技术已经日趋成熟。但是，原子发射光谱理论已经很成熟，所以直读光谱仪的发展更多的是技术层面的发展，比如测试技术、分析技术等。和原子发射光谱仪发展相比，这个过程经历了更长得时间。因为光源、结构、探测器等方面技术的提高，牵扯的范围很广，涉及方面很多，所以其它相关行业领域发展制约着直读光谱仪的进一步提高。但是欣慰的是，人们对它的热情没有丝毫减退。而且，随着近年来激光技术的不断发展和进步，人们也一直希望开发以激光为光源的新一代直读光谱仪[14]。 微合金化模具钢元素分析精度的研究(4):http://www.youerw.com/cailiao/lunwen_100150.html