光线强弱测量显示电路的设计主要根据光敏电阻的特性制作的。光敏电阻值随受到的光照强度的变化而变化（光照强度越大，电阻值越小）。将光敏电阻接入电路中，不同光照强度导致光敏电阻值变化，于是光敏电阻上的电压发生变化，导致电路的输出电压也相应变化。根据电压-光照度函数关系，由电压计算得到光照强度值，然后以可视化界面形式输出。

1。1 课题的目的论文网

   采用光敏电阻为光传感器，利用光敏电阻的光照特性完成光强的检测。具体方法是将三路光敏电阻支路并联接入电路中，其中一路串接一固定电阻，另外两路分别串接电位器，利用光敏电阻值随光照强度变化的特性，使得电路的输出电压而变化。根据这一特性，结合光照强度和输出模拟电压之间的关系，分别对三路电压值进行采集得到某一光强度下对应的模拟电压，将模拟电压通过ADC0804模数转换器转换为数字电压，通过C语言编程，将其集于单片机中，进行比较以后通过两位数码管将最大值显示出来，相应地控制点亮对应的小数点以显示光照强度的方向。

    从ADC0804 的模拟量通道输入0－5V 之间的模拟量，通过ADC0804 转换成数字量送给单片机，经单片机处理后在数码管上以十进制形成显示出来，学习用单片机控制A/D模数转换[1~2]。

1。2 光线强弱测量的前景和发展趋势

   随着科技发展的日新月异，光强检测技术已经发展出纳米、亚纳米高精度的光电测量新技术；小型、快速的微型光、机、电检测系统在各个领域应用越来越广泛。非接触、快速在线测量已经取代原始的接触式，较缓慢的检测技术，并向微空间三维测量技术和大空间三维测量技术方向发展；光电跟踪与光电扫描测量技术等先进的光强检测技术的进步和广泛应用将对人们生活，工业生产甚至国防科技产生巨大影响和改革。

   随着世界各国的激烈竞争正以日新月异的速度突飞猛进及科研技术的提高，检测技术在国民经济各部门，起着重要的作用，无论科研，产品质量和自动化控制是必要的，以检测利用现代技术作为光电子检测手段具有非接触，非破坏性的，长距离，通过环境影响小，速度快，测量精度优势的抗干扰能力是当今检测技术的主要方向。光电检测技术将向着高精度、智能化、数字化、多元化、微型化、自动化方向发展。所谓高精度是指检测精度向高精度方向发展，纳米，亚纳米级精密光学测量技术是未来发展的热点;智能检测系统是指智能化方向发展，如光电扫描光学跟踪测量技术;数字是指数字测试结果，实现光学测量和集成的光电控制方向;光电检测设备的检测功能的多样化的手段来一个集成的，多参数，多样化的多维测量方向，以及发展的人无法到达，如微空间三维测量技术和大空间三维测量领域技术;小型化装置，在电子元件和电路集成化方向使用一个光电检测设备;小型化装置向小和快的微光学，机械，电检测系统的光电探测系统的发展;自动化意味着测试技术，自动化，非接触，快速在线测量方向，以检测动态测量方向的发展状况[11~13]。

1。3 本课题研究的内容

设计一个光照强度测量显示电路，要求以日光灯光照下，在不同的光照强度下，通过光敏电阻的变化采样到当前的光照强度，并在数码管显示电路上显示出量化的光照强度的值，并且在这基础上增加设计测定光线方向模块[4]。

2 系统概述

2。1 设计方案的提出

采用三路光敏电阻支路并联检测光照强度，通过每一路可以得到一个模拟采样电压，将这三路电压通过CD4051单8通道数字控制模拟电子开关循环输入到模数转换器ADC0804将模拟信号转换为数字信号，将数字信号通过通信模块输送给AT89C51单片机，通过比较后得出最大值，将最大值输出并利用两位数码管显示出来。对于光强的方位，则通过控制两位数码管的两个小数点的关断与否来显示出来，具体是两个小数点分别单独亮时对应两个方位，而两个小数点均不亮时对应另外一个方位。至此，可以将光照的强度以及光照的方位通过数码管显示出来，完成了本设计选题的任务及要求。具体框图如下图2-1所示： AT89C51单片机光线强弱测量显示电路的设计+电路图(2):http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_87568.html