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折射率测量系统国内外研究现状和参考文献

时间:2023-12-07 22:58来源:毕业论文
折射率测量系统国内外研究现状和参考文献。近些年来,传感器技术、计算机技术、光谱分析、控制理论及测量发展迅速,也就进一步促进了光学测量领域日新月异的发展。在折射率测

近些年来,传感器技术、计算机技术、光谱分析、控制理论及测量发展迅速,也就进一步促进了光学测量领域日新月异的发展。在折射率测量技术方面,落后的折射率测量仪器逐渐被市场淘汰,不断要求研发新的折射率测量仪器,使其配备先进的技术支持,同时精度、自动化、智能化、可靠性和抗干扰能力都能得到提高,测试速度更快,结果更加可靠,从而满足市场的需要。91829

目前,无论是国内还是国外对折射率测量系统研究基本上可以概括为两个方面。一方面,主要是对原有测量技术的应用范围进行进一步的研究,并对测试设备进行改造和优化。另一方面,主要体现在对新检测技术的研究,结合当下比较先进的制造技术、工艺和新型材料,大胆的对原有的测量技术进行优化改进,进一步发挥原有优点,消除和避免原有的缺陷和不足。总而言之,国内外目前对折射率测量技术的研究都是向高精度、智能化、测量自动化方向发展。

现今折射率的干涉测量技术备受国内外学者和专家的青睐,是该领域的研究热点。晶体材料最显著的特征就是具有较大的折射率,容易发生双折射现象。此外,晶体材料本身价格特别昂贵,容易受自身频率改变的影响产生色散现象,对折射率测试设备自身的精度要求很高。因而,如何实现对晶体材料折射率的自动化、智能化、非接触、高精度测量一直都是各国光学领域研究的热点。目前乌克兰和美国已经在这方面进行了大量的研究工作,取得了较好的研究结果。

参 考 文 献

 

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