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ANSYS片式电阻器件无铅焊点热疲劳有限元分析(3)

时间:2021-10-10 15:13来源:毕业论文
22 图 3-11 整体结构的等效蠕变图 22 图 3-12 焊点等效蠕变图 23 图 3-13 Von Mises 应力随时间变化图 24 图 3-14 等效蠕变随时间变化图 25 图 4-1 焊点的分区示意图

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图 3-11 整体结构的等效蠕变图 22

图 3-12 焊点等效蠕变图 23

图 3-13 Von Mises 应力随时间变化图 24

图 3-14 等效蠕变随时间变化图 25

图 4-1 焊点的分区示意图 26

图 4-2 高度间隙为 0 时的 Von Mises 应力图 27

图 4-3 高度间隙为 0。1 时的 Von Mises 应力图 28

图 4-4 d 对应力值的影响曲线图 28

图 5-1 材料为 Sn3。9Ag0。6Cu 焊点的 Von Mises 应力图 31

图 5-2 材料为 Sn3。9Ag0。6Cu 焊点的 Von Mises 应力时间历程曲线 32

图 5-3 材料为 Sn3。9Ag0。6Cu 焊点的等效蠕变图 33

图 5-4 Sn3。9Ag0。6Cu 材料的等效蠕变随时间变化的曲线图 33

图 5-5 材料为 Sn3。9Ag0。6Cu 的焊点的 Von Mises 蠕变图 34

表清单

表序号 图名称 页码

表 1-1 集成电路封装的功能 1

表 3-1 各材料的参数 16

表 4-1 不同高度间隙下的无铅焊点的热疲劳寿命 29

表 5-1 两种不同材料应力、蠕变的对比总结 35

变量注释表

N f 热疲劳失效的平均寿命

 剪应变范围

疲劳韧性指数或者寿命指数

tm 热循环的平均温度

C 疲劳韧性系数

f 热循环频率

1 绪论

1。1 电子封装的简介

电子封装的首要作用是将电子元器件封闭起来,使其免受外界环境的不利影 响。故而,电子封装最初的设计是为了避免电路芯片与外界环境相接触,利用金 属作为外壳表面,从而实现密封就可以用来保护电子元件了。但是随着电子技术 的不断进步,电子元器件的密封保护技术逐渐完善,在工业电子集成电路封装中 起着至关重要的用途。它不仅提升了电子元器件的可靠性,还可以实现电子元器 件几何尺寸与功能的改良。它是利用封装技术来形成半导体元件,从而实现集成 电路元器件的功能。电子封装的作用不仅仅局限在保护电子元器件,其另一个功 能是作为电子元器件与外界交流的介质。倘若密封环境内没用任何的电子元器 件,那封装的存在就没有任何意义了。集成电路的封装的功能见表 1-1。

表 1-1 集成电路封装的功能

功能 ANSYS片式电阻器件无铅焊点热疲劳有限元分析(3):http://www.youerw.com/jixie/lunwen_82698.html

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