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FPGA故障检测仪信号产生与检测电路设计

时间:2020-11-16 17:16来源:毕业论文
基于ATMEL公司ARM芯片AT91SAM9G20和ALTERA公司FPGA芯片EP3C25设计了信号产生与检测板硬件电路,完成了硬件电路原理图的设计以及PCB板的布线

摘要随着人工智能以及计算机技术在故障检测领域中的应用,各国对故障检测的研究无论在理论上还是在实际应用中都取得了非常重大的成果。本设计针对某电子设备的故障检测,完成了可以检测多种电路板故障的检测仪中信号产生与检测电路的设计及调试。 首先,介绍了检测仪总体设计方案,细化了信号产生与检测电路的功能需求和性能指标;然后,基于 ATMEL 公司 ARM 芯片 AT91SAM9G20 和 ALTERA 公司 FPGA芯片 EP3C25 设计了信号产生与检测板硬件电路,完成了硬件电路原理图的设计以及 PCB 板的布线;加工装配后对信号产生与检测电路板进行了调试,给出了系统测试方案,测试结果表明本设计达到了设计要求。59654  
毕业论文 关键词  故障检测  信号产生  EP3C25  AT91SAM9G20 
Title    Design of Signal Generation and Detection Circuit   for Fault Detector 
Abstract With the application of artificial intelligence and computer technology in the field of fault detection ,the fault detection of all countries has obtained very significant achievement both in theory and in practice .For the  fault detection  of certain  electronic equipment,  the  project  completes the  design and debugging of signal generation and detection circuit  in  the detector which can detect a variety of circuit board faults.    Firstly, the overall design scheme of detector is introduced ,and the functional requirements and performance indicators of signal generation and detection circuit is refined .Then , based on ARM chip AT91SAM9G20 of ATMEL company and FPGA  chip EP3C25  of  ALTERA company  , the  design of  signal generation and detection circuit is given, and the devising of the wiring hardware circuit schematic and PCB board  is completed.  After the processing and assembling of signal generation and detection circuit, the test plan is provided ,and the results of the system debugging for hardware circuit show that this design can meet the requirements . 
 Keywords    fault detection  signal generation  EP3C25  AT91SAM9G20 

目次

1绪论1

1.1选题背景...1

1.2研究现状...1

1.3本文主要内容...2

2故障检测仪的总体设计3

2.1系统要求3

2.2故障检测仪组成框图..3

2.3电路设计软件简介7

3故障检测仪信号产生与检测电路的设计.10

3.1信号产生与检测电路的组成...10

3.2主处理芯片介绍.14

3.3ARM系统电路设计...15

3.4FPGA系统电路设计..27

3.5DAC电路...29

3.6IIC总线电路...31

3.7PCB设计...33

4系统测试...35

4.1测试方案...35

4.2测试过程...37

4.3测试结果...39

结论40

致谢41

参考文献...42

1  绪论 1.1 选题背景 测试技术和仪器是科学研究中获取、处理和显示信息的重要手段。随着科学技术的快速发展,特别是数字技术及各种超大规模集成电路的广泛应用,电子装备尤其是军用电子设备结构越来越复杂,功能越来越完善,自动化程度也越来越高。虽然电子系统的性能得到提高,但是对测试和维修保障也带来了测试流程复杂、测试时间长、维修保障困难、维修费用高等诸多问题,这些问题严重影响了电子设备的完好性和寿命周期,因此系统的测试开销急剧增加。 电子设备是由各种元器件构成的,由于制造工艺的限制、使用寿命及工作条件的影响,故障的产生式不可避免的。为了保证系统的可靠运行,故障检测必不可少。 所谓故障检测就是确定待检测电路是否存在故障,若存在故障,则通过一定的手段来进行故障的定位[1]。根据电路的类型可将故障检测分为两类:模拟系统的故障检测和数字系统的故障检测。模拟系统由于自身的特点,使得其故障检测比数字系统更复杂。模拟信号量是连续的,任何一个元件的参数超过其容差时就属故障,因此模拟电路的故障状态是无限的。数字系统故障检测的基本思想是在输入端加载激励信号,在输出端得到响应,根据激励和响应的组合关系以及电路的拓扑关系确定故障点[2]。其关键是检测向量的生成,即在输入端加载什么样的激励信号,才能使电路内部的故障点反应出来。 FPGA故障检测仪信号产生与检测电路设计:http://www.youerw.com/tongxin/lunwen_64936.html

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