3.4    C#生成表    21
3.5    数据库表的增加    22
3.6    数据库表的删除    23
3.7    数据库表的查询    24
4    结论    26
致谢    27
参考文献    28
附录：    29
1    绪论
现代社会是一个飞速发现的信息时代，大多数行业也越来越离不开信息的处理，计算机被普遍的使用，信息管理系统也开始受到广泛的运用，在学校里，在公司里，在商场里，甚至在工厂里都能看见信息管理系统的身影。计算机对信息系统的控制，提高了我们的工作效率，也提高了信息的安全性，而对于繁杂又庞大的数据信息，更是为我们带来了很多的方便快捷，充分的体现了信息管理系统的优越性。系统的开发，是对信息系统管理的前提，所以本文设计的系统就是对Gamma能谱特征峰在软件运行时动态建立数据库。
1.1    能谱仪简介
能谱仪的全称为能量分散谱仪(EDS, Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。能谱仪主要是由探测器、脉冲幅度分析器和记录显示电路三个部分组成。各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。工作时，探测器将不同能量的射线变成相应幅度的电脉冲，并加以放大。放大的脉冲送到脉冲幅度分析器加以分离，然后由记录显示电路记录。目前最为常用的是Si（Li）X射线能谱仪，其关键部件是Si（Li）检测器，就是锂漂移硅固态检测器，它实际上就是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。
1.1.1    能谱仪的优点
（1）    分析速度快
能谱仪可以同时接受和检测所有不用能量的X射线光子信号，故可以在短短几分钟内分析和确定样品中含有的所有元素，带铍窗口的探测器可以探测的元素范围为11Na~92U，20世纪80年代推向市场的新型窗口材料可使能谱仪能够分析Be以上的轻元素，探测元素的范围为4Be~92U。
（2）    灵敏度高
X射线手机立体角大。由于能谱仪中Si（Li）探头可以放在离发射源很近的地方（10cm左右），无需经过晶体衍射，信号强度几乎没有损失，所以灵敏度高（可以达到104cps/nA，入射电子束单位强度所产生的X射线计数率）。此外，能谱仪可以在低入射电子束流（10-11A）条件下工作，这有利于提高分析的空间分辨率。
（3）    谱线重复性好
由于能谱仪没有运动部件，稳定性好，而且没有聚焦要求，所以谱线峰值位置的重复性好且不存在失焦的问题，适合于比较粗糙表面的分析工作。
1.1.2    能谱仪的缺点
（1）    能量分辨率低，峰背比低
由于能谱仪的探头直接对着样品，所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到，从而使得Si（Li）检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时，背底也相应提高，谱线的重叠现象严重，故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差。能谱仪的能量分辨率（130eV）比波谱仪的能量分辨率（5eV）低。
（2）    工作条件要求严格
Si（Li）探头必须始终保持在液氦冷却的低温状态，即使是在不工作的时候也不能中断，否则晶体内Li的浓度分布状态就会因为扩散而起变化，导致探头功能下降，甚至完全被破坏。 C#数字化谱仪的数据库设计+文献综述(2):http://www.youerw.com/tongxin/lunwen_11658.html